Advanced Search

Cancel
Found: 3 Piece 0.001 sn
- You can use the 'AND' / 'OR' / 'NOT' option for the things you want to add or remove.
- You can return to normal search by pressing the Cancel button.
Filters
Access to Files

Рельефная запись на пленке серебра при прямом лазерном воздействии на слой аморфного кремния

Zamirgül KAZAKBAYEVA

В данной работе представлены результаты прямой лазерной записи на двухкомпонентной среде, состоящей из нанесенных методом магнетронного напыления слоев аморфного кремния и серебра на стеклянную подложку. Лазерное воздействие проводилась сфокусированным излучением одномодового полупроводникового лазера с длиной волны λ = 405 нм на слой аморфного кремния со стороны стеклянной подложки. На электронном микроскопе TESCAN VEGA 3 LMH исследовано формирование рельефа на пленке серебра при прямой записи импульсами полупроводникового лазера с λ = 405 нм на подслое а-Si.

Access to Files

Трехмерная лазерная запись изображений на пленках аморфного кремния

Zamirgül KAZAKBAYEVA

Представлены результаты трехмерной лазерной записи изображений на пленках аморфного кремния интерференционного фильтра сфокусированным излучением одномодового полупроводникового лазера с λ= 405 nm. Прямая лазерная запись проводилась на пленки аморфного кремния толщиной ~1-3 мкм при изменении глубины фокуса записи в объеме регистрирующей среды. При локальном воздействии сфокусированным излучением на слой аморфного кремния наносекундными импульсами происходит его переход в кристаллическое состояние. За счет рассеяния света на оптических неоднородностях среды после лазерной записи и различной фаз ...More

Access to Files

Исследование прямой лазерной записи микрорельефа на двухслойной структуре А-SI/AG

Zamirgül KAZAKBAYEVA

В данной работе представлены результаты прямой лазерной записи на двухслойной структуре аморфный кремний/серебро, нанесенной на стеклянную подложку методом магнетронного напыления. Исследованы спектры поглощения пленок а-Si различной толщины и стеклянной подложки. Предложен метод прямой лазерной записи микроструктур сфокусированным излучением одномодового полупроводникового лазера с длиной волны λ= 405 нм на двухслойной среде а-Si/Ag со стороны стеклянной подложки. Исследовано формирование микрорельефа при прямой записи импульсами сфокусированного излучения полупроводникового лазера с λ = 405 ...More

Our obligations and policy regarding cookies are subject to the TR Law on the Protection of Personal Data No. 6698.
OK

creativecommons
Bu site altında yer alan tüm kaynaklar Creative Commons Alıntı-GayriTicari-Türetilemez 4.0 Uluslararası Lisansı ile lisanslanmıştır.
Platforms